Determination of the anion position parameter in MnF2fromγ-ray diffraction
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
determination of maximal singularity free zones in the workspace of parallel manipulator
due to the limiting workspace of parallel manipulator and regarding to finding the trajectory planning of singularity free at workspace is difficult, so finding a best solution that can develop a technique to determine the singularity-free zones in the workspace of parallel manipulators is highly important. in this thesis a simple and new technique are presented to determine the maximal singula...
15 صفحه اولتععین پارامتر های ترانسفورماتور به منظور تشخیص خطا transformer parameter determination for the purpose of failure diagnosis
چکیده ترانسفورماتورهای قدرت ادوات گران قیمتی هستنند که نقش بسیار مهمی را در سیستم های قدرت ایفا می کنند. در سالهای اخیر روشهای مختلفی جهت تشخیص خطا و مونیتورینگ ترانسفورماتورها ارائه شده است. در این پایان نامه برخی از این روشها جهت تعیین پارامتر های ترانسفورماتور در شرایط سالم و خطاهای مختلف در محدوده ی وسیعی از فرکانس بررسی شده است. همچنین با استفاده از روش اجزای محدود و محاسبات بر پایه فرمو...
15 صفحه اولTranslation position determination in ptychographic coherent diffraction imaging.
Accurate knowledge of translation positions is essential in ptychography to achieve a good image quality and the diffraction limited resolution. We propose a method to retrieve and correct position errors during the image reconstruction iterations. Sub-pixel position accuracy after refinement is shown to be achievable within several tens of iterations. Simulation and experimental results for bo...
متن کاملX-ray Diffraction Determination of Stresses in Thin Films
3 This paper presents the aethodology eaployed in the deteraination of the stress tensor for thin crystalline filas usine x-ray rockine curves . Use of the saae equipaent for the deteraination of the averaee stress in polyor non-c rystalline thin filas attached to a crystalline substrate is also di s cussed . In this case the lattice curvature of the substrate is deterained by measureaent of th...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography
سال: 1981
ISSN: 0108-7673
DOI: 10.1107/s0108767381091538